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Hypertronics連接器2mm / cPCI

發(fā)布時(shí)間：2021-02-06 16:48:36 瀏覽：2006

Hypertronics cPCI 2mm連接器系統(tǒng)基于Hypertac雙曲線彈簧孔接觸技術(shù)，該技術(shù)以抗沖擊和振動(dòng)而聞名。Hypertronics cPCI 2mm連接器已通過軍事標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，具有強(qiáng)化和緊湊的PCI形式，可在軍用地面系統(tǒng)、軍艦和航空航天等所有關(guān)鍵任務(wù)應(yīng)用中發(fā)揮最高性能。

Hypertronics連接器cPCI 2mm在2mm的中線上裝有6排0.4mm Hypertac觸點(diǎn)，其接觸電阻小于8mm，額定電流為1.0 A。Hypertronics的接觸導(dǎo)線軌跡優(yōu)化后在高速信號(hào)應(yīng)用中表現(xiàn)良好，這些連接器與標(biāo)準(zhǔn)再熔焊工藝兼容。

Hypertronics cPCI 2mm連接器提供鍵控和非鍵控配置。該連接器在設(shè)計(jì)上是模塊化的，長度可變，一次可以按五個(gè)觸點(diǎn)的增量進(jìn)行更改。

其他優(yōu)勢(shì)包括：

Hypertac觸頭提供高可靠性

標(biāo)準(zhǔn)2mm墊

屏蔽層抗EMI/RFI

深圳市立維創(chuàng)展科技有限公司，授權(quán)代理銷售Hypertronics連接器產(chǎn)品，歡迎咨詢。

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	QCI（質(zhì)量合格檢驗(yàn)） K2系列 = MIL-DTL-55302 311P系列 = NASA GSFC S-311-P-822
3U/6U形狀因素	P1/P4	P2/P5	P3	J1/J4	J2/J5	J3
零件編號(hào)參考	K2A110FMD	K2B110FMD	K2B095FMD	K2A110FFD	K2B110FFD	K2B095FFD
設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)	IEC 1076-4 101
觸頭形狀	凸觸頭			Hypertac 0.40 mm插座
觸頭終端	焊接引線座，以63/37比例鍍鉛錫			鍍金或比例63/37的鍍鉛錫
觸頭間距	2.00mm
觸頭數(shù)目	110個(gè)信號(hào)觸頭 22接地觸頭		95個(gè)信號(hào)觸頭 19個(gè)接地觸頭	110個(gè)信號(hào)觸頭 22個(gè)接地觸頭		95個(gè)信號(hào)觸頭 19個(gè)接地觸頭
觸頭額定電流	1安培
溫度范圍	-55℃至125℃
絕緣子材質(zhì)	30%玻璃填充的LCP（符合NASA脫氣規(guī)范）
額定阻燃	94 V-O
絕緣電阻	大于5000兆歐姆
觸頭材料	鈹銅針腳觸頭			鈹銅Hypertac插座接線和黃銅主體
插接觸頭鍍層	最小值50微英寸鍍金/50微英寸鍍鎳
插接連接器之間的最大可允許間隙	0.039英寸[1.00 mm]
建議PCB 孔徑	鍍層之后0.71 ± 0.05 mm			鍍層之后0.60 mm
重量	0.55盎司	0.53盎司.	0.38盎司.	0.38盎司.	0.45盎司.	0.31盎司.

性能

3U/6U形狀因素	P1/P4		P2/P5	P3	J1/J4	J2/J5	J3
零件編號(hào)參考	K2A110FMD	K2B110FMD	K2B95FMD	K2A110FFD	K2B110FFD		K2B95FFD
LLCR （低級(jí)別觸頭阻抗）	平均值7.20毫歐姆
DWV （介質(zhì)耐壓）	1000 VRMS
觸頭壽命（插/拔）	大于4000次（每個(gè)插接連接器對(duì)）
插力	平均值16.38 LBF（每個(gè)插接連接器對(duì)）
拔力	平均值13.2 LBF（每個(gè)插接連接器對(duì)）
震動(dòng)（正弦震動(dòng)）*	在15 G時(shí)頻率為10至2000 HZ (MIL-DTL-55302) (NASA GSFCS311-P-822)
震動(dòng)（任意震動(dòng)）**	飛機(jī)底盤裝置等級(jí)的震動(dòng)（NASA戈達(dá)德GEVS SE版本A）
抗機(jī)械沖擊性*	100 G峰值(NASA GSFC S311-P-822)
執(zhí)行測(cè)試，測(cè)定是否因?yàn)闄C(jī)械運(yùn)動(dòng)而發(fā)生磨耗，并評(píng)估Hypertac觸頭系統(tǒng)在劇烈沖擊下的完整性。為驗(yàn)證測(cè)試，每10納秒執(zhí)行一次事件檢測(cè)。無事件記錄。 *使用6U飛機(jī)底盤執(zhí)行測(cè)試，測(cè)定是否因?yàn)闄C(jī)械運(yùn)動(dòng)而發(fā)生磨耗，并評(píng)估測(cè)試樣件在惡劣機(jī)械環(huán)境下的完整性。為驗(yàn)證測(cè)試，每50納秒執(zhí)行一次事件檢測(cè)。無事件記錄。

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